全譜直(zhi)讀(du)光譜儀采用(yong)標(biao)準(zhun)的設(she)計(ji)和制造工藝(yi)技(ji)術，采用(yong)全數字(zi)化(hua)技(ji)術，替(ti)代龐大的光電(dian)倍增管（PMT）模擬(ni)技(ji)術，采用(yong)真(zhen)空(kong)光室(shi)設(she)計(ji)及(ji)全數字(zi)激(ji)發(fa)光源、CMOS檢(jian)測(ce)器(qi)，高速(su)數據(ju)讀(du)出系(xi)統，使儀器具(ju)有較高的性(xing)能(neng)、較低檢(jian)出(chu)線、長期(qi)的穩(wen)定(ding)性(xing)和重(zhong)復(fu)性(xing)。

多功(gong)能(neng)W2型全譜直(zhi)讀(du)光譜儀於有色金屬設(she)計(ji)的(de)光譜儀W2型具(ju)有多功(gong)有(you)色金屬設(she)計(ji)的(de)用(yong)於測(ce)試(shi)鋁(lv)基(ji)、銅基(ji)、鎂(mei)基(ji)、鋅基(ji)、鈷基(ji)、錫(xi)基(ji)、鉛(qian)基(ji)等覆(fu)蓋了全元素分析(xi)範(fan)圍，根據(ju)用(yong)戶(hu)要(yao)求(qiu)設(she)定(ding)測(ce)量的元素通(tong)道(dao)。 光譜(pu)儀*異的長(chang)期(qi)穩(wen)定(ding)性(xing)和精(jing)密度光學(xue)系(xi)統采用(yong)Z高精(jing)密光(guang)柵(zha)，3600l/ｍｍ，配(pei)合多塊(kuai)ＣＣＤ組(zu)合，確(que)保(bao)光(guang)學(xue)系(xi)統Z高精(jing)度。創新設(she)計(ji)的(de)數字激(ji)發(fa)光源，鎢(wu)材料(liao)電極(ji)及(ji)氬氣(qi)噴(pen)射激(ji)發(fa)模式(shi)根據(ju)不同的(de)材料(liao)設(she)定(ding)不同的(de)激(ji)發(fa)參數(shu)，使火(huo)花放(fang)

多功(gong)能(neng)W6型全譜直(zhi)讀(du)光譜儀 檢測(ce)基(ji)體：鐵(tie)基(ji)、銅基(ji)、鋁(lv)基(ji)、鎳(nie)基(ji)、鎂(mei)基(ji)、鈦(tai)基(ji)、鋅基(ji)、鉛(qian)基(ji)、錫(xi)基(ji)、銀(yin)基(ji) 全新立(li)式全譜光(guang)譜(pu)采用(yong)標(biao)準(zhun)的設(she)計(ji)和制造工藝(yi)技(ji)術，采用(yong)全數字(zi)技(ji)術，替(ti)代龐大的光電(dian)倍增管（ＰＭＴ）模擬(ni)技(ji)術，與(yu)光譜儀技術同步(bu)，采用(yong)真(zhen)空(kong)光學(xue)室設(she)計(ji)及(ji)全數字(zi)激(ji)發(fa)光源、*的(de)ＣＣＤ檢測(ce)器(qi)，高速(su)數據(ju)讀(du)出系(xi)統，使儀器具(ju)有*的(de)性(xing)能(neng)、極(ji)低(di)的檢(jian)出線、長期(qi)的穩(wen)定(ding)性(xing)和重(zhong)復(fu)性(xing)。

光譜(pu)直(zhi)讀分析(xi)儀的分析(xi)原(yuan)理是將(jiang)光(guang)源輻(fu)射出的(de)待測(ce)元(yuan)素的(de)特(te)征光(guang)譜通過樣品(pin)的蒸(zheng)汽(qi)中待測(ce)元(yuan)素的(de)基(ji)態原(yuan)子所吸收(shou)，由(you)發(fa)射光譜(pu)被(bei)減弱(ruo)的程度，進而(er)求(qiu)得(de)樣品(pin)中待測(ce)元(yuan)素的(de)含(han)量。它符合郎(lang)珀(po)-比爾(er)定(ding)律(lv) A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I為透(tou)射(she)光強(qiang)度，I0為發(fa)射(she)光強(qiang)度，T為透(tou)射(she)比，L為(wei)光(guang)通過原(yuan)子化(hua)器(qi)光(guang)程由(you)於L是不變值(zhi)所(suo)以(yi)A=KC。