ZJD高(gao)頻介(jie)電常數介(jie)質(zhi)損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)儀

ZJD高(gao)頻介(jie)電常數介(jie)質(zhi)損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)儀

產(chan)品(pin)適(shi)用(yong)範圍

適(shi)用(yong)於絕(jue)緣(yuan)導(dao)熱矽膠(jiao),石英晶玻璃,陶瓷片(pian),薄(bo)膜,OCA光(guang)學膠(jiao),環氧樹脂材料(liao),塑料材料(liao),FR4 PCB板(ban)材, PA尼龍/滌綸(lun),PE聚乙(yi)烯(xi),PTFE聚(ju)四氟(fu)乙(yi)烯(xi),PS聚(ju)苯(ben)乙(yi)烯(xi),PC聚(ju)碳酸(suan)旨,PVC,PMMA等(deng)

特(te)點(dian)

●雙掃描技(ji)術 - 測(ce)試(shi)頻率和調諧(xie)電容(rong)的(de)雙掃描、自(zi)動(dong)調諧(xie)搜索功能。

●雙測(ce)試(shi)要素輸入 - 測(ce)試(shi)頻率及(ji)調(tiao)諧(xie)電容(rong)值(zhi)皆(jie)可通過(guo)數字(zi)按(an)鍵輸入。
●雙數碼(ma)化(hua)調(tiao)諧(xie) - 數碼(ma)化(hua)頻率調諧(xie)，數碼(ma)化(hua)電容(rong)調(tiao)諧(xie)。
●自動(dong)化測(ce)量(liang)技(ji)術 -對測(ce)試(shi)件實施(shi) Q 值(zhi)、諧(xie)振點(dian)頻率和電容(rong)的(de)自動(dong)測(ce)量(liang)。
●全參(can)數液(ye)晶(jing)顯示 – 數字(zi)顯(xian)示主調電容(rong)、電感、 Q 值(zhi)、信(xin)號(hao)源(yuan)頻率、諧(xie)振指針(zhen)。

●DDS 數字(zi)直接合(he)成的(de)信號(hao)源(yuan) -確(que)保(bao)信源(yuan)的(de)高(gao)葆(bao)真(zhen)，頻率的(de)幅(fu)度(du)的(de)高(gao)穩(wen)定(ding)。

●計算(suan)機自(zi)動(dong)修正(zheng)技(ji)術和測(ce)試(shi)回路(lu)0優化 —使測(ce)試(shi)回路(lu) 殘(can)余(yu)電感減至0低，** Q 讀數值(zhi)在(zai)不(bu)同(tong)頻率時(shi)要加以(yi)修正(zheng)的(de)困惑(huo)。

●電感測(ce)試(shi)時(shi)，設備(bei)自身(shen)殘(can)余(yu)電感和測(ce)試(shi)引(yin)線(xian)電感的(de)自動(dong)扣除功能，提高(gao)了電感值(zhi)（特(te)別(bie)是小(xiao)電感值(zhi)）測(ce)量(liang)的(de)精度(du)。此(ci)功能為北(bei)京智德創新公(gong)司生(sheng)產(chan)的(de)Q表(biao)。
技(ji)術參(can)數

ZJD高(gao)頻介(jie)電常數介(jie)質(zhi)損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)儀

結構(gou)概(gai)述(shu)

介電常數介(jie)質(zhi)損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)儀由(you)平板(ban)電容(rong)器(qi)組成，平(ping)板(ban)電容(rong)器(qi)壹般(ban)用(yong)來(lai)夾(jia)被(bei)測(ce)樣品(pin)，介(jie)電常數及(ji)介(jie)質損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)系統(tong)的(de)主機則(ze)是(shi)壹臺(tai)阻抗測(ce)量(liang)設備(bei)（高(gao)頻Q表(biao)）。絕緣(yuan)材料(liao)的(de)損耗(hao)角(jiao)正(zheng)切值(zhi)是(shi)通過(guo)被(bei)測(ce)樣品(pin)放入平(ping)板電容(rong)器(qi)和不(bu)放樣品(pin)的(de)Q值(zhi)變(bian)化和厚度(du)的(de)刻度(du)讀數通過(guo)公(gong)式計算(suan)得到(dao)。