鹽霧試(shi)驗箱

鹽霧試(shi)驗箱的(de)環(huan)境(jing)條(tiao)件(jian)：

工(gong)作環(huan)境(jing)：溫(wen)度(du)：10～35℃ 濕(shi)度(du)：10～75%RH（不(bu)結(jie)露）、供(gong)電(dian)電(dian)源(yuan)：AC220V/ 50HZ ,100A

額(e)定(ding)電流(liu)不(bu)超過 16A 壓(ya)縮空(kong)氣(qi)每小時(shi)不(bu)得(de)超過 10 立(li)方(fang)米(mi)。氣(qi)壓(ya)：86kPa～106kPa。

使(shi)用條(tiao)件(jian)：地面平(ping)整，通(tong)風(feng)良好(hao)；設(she)備(bei)周(zhou)圍無強烈振動(dong)；設(she)備(bei)周(zhou)圍無易燃、易爆(bao)、腐(fu)蝕性物(wu)質(zhi)和粉(fen)塵(chen)；設(she)備(bei)周(zhou)圍留(liu)有適當的使(shi)用及維護(hu)空間。

滿足(zu)標準：GJB150.11-2009

GB/T2423.17《電(dian)工(gong)電(dian)子產(chan)品(pin)環(huan)境(jing)試(shi)驗 試驗 Ka：鹽霧試(shi)驗方法(fa)》

IEC60068-2-11《基本(ben)環境(jing)試(shi)驗規程(cheng)第(di)二部份(fen)：試驗、試驗 Ka：鹽霧》

ISO9227《人(ren)工(gong)模(mo)擬(ni)氣(qi)候腐(fu)蝕試驗--鹽霧試(shi)驗》等標(biao)準進行相關(guan)的鹽霧試(shi)驗。

B/T 20854-2007 幹(gan)濕(shi)鹽霧試(shi)驗、ISO14993-2001 幹(gan)濕(shi)鹽霧試(shi)驗

GB/T 5170.8-2008 鹽霧試(shi)驗設備(bei)

鹽霧試(shi)驗箱設(she)備用途：

金(jin)屬(shu)材(cai)料大多(duo)數(shu)的(de)腐(fu)蝕發生在大(da)氣(qi)環境(jing)中(zhong)，大(da)氣(qi)中(zhong)含(han)有氧(yang)氣(qi)、濕(shi)度(du)、溫(wen)度(du)變(bian)化和(he)汙(wu)染物等腐(fu)蝕成分(fen)和(he)腐蝕因素(su)。鹽霧腐(fu)蝕就是壹(yi)種常(chang)見(jian)和(he)zy破壞(huai)性的(de)大氣(qi)腐蝕。鹽霧對(dui)金(jin)屬(shu)材(cai)料的腐蝕，主要(yao)是導電的鹽溶液(ye)滲(shen)入金(jin)屬(shu)內部(bu)發生電化學(xue)反應，形成“低(di)電位金(jin)屬(shu)—電解(jie)質(zhi)溶液(ye)壹(yi)高(gao)電位雜質(zhi)"微(wei)電池(chi)系統，發生電子轉(zhuan)移(yi)，作為(wei)陽極(ji)的金(jin)屬(shu)出現溶(rong)解(jie)，形成新的化合物(wu)即(ji)腐蝕物。鹽霧腐(fu)蝕破壞(huai)過程(cheng)中(zhong)起(qi)主(zhu)要(yao)作用的(de)是氯(lv)離子，它(ta)具(ju)有很強的(de)穿(chuan)透本(ben)領(ling)，容(rong)易穿(chuan)透金(jin)屬(shu)氧(yang)化層(ceng)進入金(jin)屬(shu)內部(bu)，破壞(huai)金(jin)屬(shu)的鈍(dun)態；同(tong)時，氯(lv)離子具(ju)有很小的(de)水(shui)合能(neng)，容易被吸(xi)附在金(jin)屬(shu)表面，取代(dai)保(bao)護(hu)金(jin)屬(shu)的氧(yang)化層(ceng)中(zhong)的(de)氧(yang)，使金(jin)屬(shu)受到(dao)破壞(huai)。同(tong)時產(chan)品(pin)結(jie)露冷(leng)凝水(shui)測試(shi)。

試(shi)樣(yang)限(xian)制：本(ben)試驗設備(bei)禁止：

易燃、爆(bao)炸(zha)、易揮(hui)發性物(wu)質(zhi)試樣(yang)的試(shi)驗或儲存(cun)生物試(shi)樣(yang)的試(shi)驗或儲存(cun)

放射性(xing)物(wu)質(zhi)試樣(yang)的試(shi)驗及儲存(cun)、劇毒(du)物質(zhi)試樣(yang)的試(shi)驗及儲存(cun)