電路(lu)板耐折(zhe)測試(shi)儀(yi)價格(ge)

電(dian)路(lu)板耐折(zhe)測試(shi)儀(yi)價格(ge)是壹款撓(nao)性(xing)覆(fu)銅(tong)板(ban)、撓(nao)性(xing)印(yin)制板(ban)生(sheng)產工藝(yi)控制檢(jian)測(ce)儀(yi)器

電(dian)路(lu)板耐折(zhe)測試(shi)儀(yi)價格(ge)具(ju)有(you)自(zi)動斷(duan)線(xian)報(bao)警，記(ji)錄讀數的功能(neng)，操作簡(jian)單。
相關(guan)技術參數：
型(xing)號(hao)：ASIDA-NZ12
機體尺寸：300x350x520mm
額(e)定電(dian)壓：220V～/50Hz
額(e)定(ding)功率:100 W
張力:4.9N
夾(jia)頭(tou)與轉(zhuan)動軸(zhou)距離:50～75mm
折(zhe)曲(qu)度:135±5°
曲(qu)率(lv)半徑:2mm
試(shi)樣寬:≤19mm
折(zhe)試頻次:0～180rpm

詳(xiang)細介紹
功能(neng)簡(jian)介：
1，全(quan)自(zi)動INLINE式(shi)設(she)計，無需人(ren)工操作
2，ICT靜態元(yuan)器件測試(shi)，
3，FCT功能(neng)測試(shi)，
4，多連板自(zi)動區(qu)分(fen)PASS OR NG板(ban)，機械(xie)手自(zi)動分(fen)板(ban)
5，測(ce)試(shi)數據(ju)存(cun)儲及連網功能(neng)
6，測試(shi)速度比(bi)手工快(kuai)30%以上，操作人(ren)員(yuan)無。比手工測(ce)試少(shao)2-4人(ren)
7，條(tiao)碼(ma)識(shi)別(bie)及磁(ci)卡(ka)ID號識(shi)別(bie)功能(neng)，
8，自(zi)動化部(bu)分(fen)使(shi)用(yong)進品PLC，線(xian)性(xing)電(dian)機使(shi)用(yong)日本進口(kou)
硬件介紹：
ICT測(ce)試(shi)部(bu)分(fen)，
1，使(shi)用(yong)幹(gan)簧(huang)管繼(ji)電(dian)器為(wei)通(tong)道(dao)板，耐壓耐流(liu)大(da)，保(bao)證測試安全(quan)性(xing)
2，使(shi)用(yong)工控電腦(nao)，保(bao)證測試的穩(wen)定(ding)性(xing)，
3，WINXP界(jie)面(mian)，操作簡(jian)單方(fang)便
4，可測試待(dai)測(ce)板的(de)電(dian)阻，電容，電(dian)感(gan)，連接器(qi)，IC，二(er)極(ji)管，三極(ji)管，電(dian)容性(xing)極(ji)測試等(deng)

產(chan)品簡(jian)介

ICT在線(xian)測試(shi)儀(yi)是檢(jian)查PCB板上元(yuan)器件的電(dian)氣(qi)性(xing)能(neng)和(he)電(dian)路(lu)網絡的(de)連接情況。能(neng)夠準(zhun)確對(dui)電阻(zu)、電(dian)容、電(dian)感(gan)、二(er)極(ji)管、三極(ji)管、光(guang)藕(ou)、變(bian)壓器(qi)、繼(ji)電(dian)器、運算(suan)放大(da)器、中(zhong)小規模的集成(cheng)電路(lu)進行測試(shi)。
   通過(guo)對(dui)元(yuan)器件電氣(qi)性(xing)能(neng)的測(ce)試來發(fa)現(xian)制造(zao)工藝(yi)的缺(que)陷和(he)元(yuan)器件的不良(liang)。組(zu)件類(lei)可檢(jian)查出組件值的(de)偏離誤(wu)差(cha)、失(shi)效(xiao)或(huo)損壞。對(dui)工藝(yi)類(lei)可發(fa)現(xian)如焊錫(xi)短路(lu)、組件插錯(cuo)、插(cha)反、漏裝、管腳翹起(qi)、虛(xu)焊，PCB短路(lu)、斷線(xian)等故障(zhang)。

  故障(zhang)顯示具(ju)體(ti)的(de)組(zu)件、器件管腳、網絡點(dian)上，故障(zhang)定(ding)位準(zhun)確。對(dui)故障(zhang)的(de)維(wei)修不需較多專業知(zhi)識(shi)。采(cai)用(yong)自(zi)動化測(ce)試(shi)，操作簡(jian)單，測(ce)試快速。

基本(ben)功能(neng)：

1. Windows XP操作系統，運行穩(wen)定(ding)，安全(quan)可靠(kao)，便於(yu)操作。
2. 程(cheng)式兼(jian)容性(xing)，可直(zhi)接讀取(qu)其(qi)它品牌(pai)ICT測試(shi)程(cheng)序(xu)與轉(zhuan)成(cheng)其(qi)它程(cheng)式。
3. 自(zi)動測(ce)試(shi)程(cheng)式學(xue)習功能(neng)（ATPD），可快速完成(cheng)程(cheng)式調試，節約程(cheng)式調試時間(jian)；
4. 連扳展開功能(neng)，只須作壹塊板(ban)的測試程(cheng)式，即可自(zi)動產(chan)生(sheng)多連板測(ce)試(shi)程(cheng)式
5. 子(zi)板偵(zhen)測(ce)功能(neng)，可實(shi)現(xian)對(dui)連扳中(zhong)缺(que)板或(huo)無元(yuan)件的壞(huai)板(ban)自(zi)動刪(shan)略測試(shi)。節約看(kan)板時(shi)間(jian)。
6. 統(tong)計報(bao)表功能(neng)，為(wei)改(gai)善(shan)生(sheng)產(chan)品質(zhi)提(ti)供(gong)可靠(kao)的數據(ju)，並(bing)可直(zhi)接列印(yin)統計圖(tu)表。
7. 板示圖(tu)功能(neng)（Board View），可以直(zhi)接顯示故障(zhang)點(dian)的(de)位置(zhi)和(he)相(xiang)關(guan)信(xin)息，壹般員(yuan)工即可根據(ju)不良(liang)提(ti)示(shi)維(wei)修，不需用專業維(wei)修人(ren)員(yuan)。
8. 隔(ge)離功能(neng)，單部(bu)有(you)10個隔(ge)離點(dian)，對(dui)待測(ce)體(ti)信(xin)號源(yuan)分(fen)流(liu)提(ti)供(gong)了*的(de)隔(ge)離效(xiao)果，提高了(le)待測體的穩(wen)定(ding)性(xing)和(he)準(zhun)確信(xin)。

9. 硬件自(zi)我檢(jian)測(ce)功能(neng)，開機即對(dui)設備(bei)的(de)自(zi)身硬件進行診(zhen)斷(duan)，保(bao)證測試前設(she)備(bei)的(de)良(liang)好(hao)性(xing)。
10. 使(shi)用(yong)者(zhe)權(quan)限設定，管理(li)者(zhe)可以設定(ding)測(ce)試權(quan)、編(bian)程(cheng)權、維(wei)護(hu)權(quan)、監控權給(gei)相關(guan)人(ren)員(yuan)。

新(xin)增(zeng)特(te)點：

1. *的低(di)電阻(zu)測(ce)試，小可測試0.01歐姆電(dian)阻。
2. *的(de)電解(jie)電容極(ji)性(xing)測(ce)試(shi)，可測率接(jie)近(jin)100%，真(zhen)正(zheng)解決實(shi)裝(zhuang)板(ban)電(dian)解(jie)電容極(ji)性(xing)插(cha)反(fan)。
3. *的(de)SFIS系(xi)統、條(tiao)碼(ma)掃(sao)描(miao)、方(fang)位監(jian)控、蓋章功能(neng)、紅外線保(bao)護(hu)等(deng)接口(kou)，客戶(hu)可根據(ju)需(xu)求進行選(xuan)購(gou)。
4. 放電功能(neng)，對(dui)待測(ce)體(ti)進行測試(shi)前的(de)放電，以保(bao)證測試的穩(wen)定(ding)性(xing)及產(chan)品的(de)安全(quan)性(xing)。

5． 並(bing)聯(lian)二極(ji)管測(ce)試(shi)，可測出其(qi)中(zhong)壹個二(er)極(ji)管掉(diao)件，損壞(huai)。

6． BGA測試(shi)，利(li)用電(dian)場(chang)強度檢(jian)測(ce)BGA或(huo)IC插腳空(kong)焊。

• 程(cheng)式匯(hui)入功能(neng)：可匯入FABMASTER生(sheng)成(cheng)的測(測)試程(cheng)式；可匯入它廠(chang)的(de)測(測)試程(cheng)式
• 測(測)試程(cheng)式匯(匯)出功能(neng)：可匯出其(qi)它ICT的(de)測(測)試程(cheng)式