電路板(ban)耐折測(ce)試儀(yi)*生產(chan)價(jia)格

電路板(ban)耐折測(ce)試儀(yi)*生產(chan)價(jia)格是壹(yi)款(kuan)撓(nao)性覆(fu)銅(tong)板、撓性印(yin)制(zhi)板生產(chan)工(gong)藝(yi)控(kong)制(zhi)檢測(ce)儀(yi)器(qi)

電路板(ban)耐折測(ce)試儀(yi)*生產(chan)價(jia)格具有自(zi)動(dong)斷線報警，記(ji)錄讀數的功能，操(cao)作簡單。
相關技(ji)術參數：
型號：ASIDA-NZ12
機體尺(chi)寸(cun)：300x350x520mm
額定電壓(ya)：220V～/50Hz
額定功率:100 W
張力:4.9N
夾(jia)頭與(yu)轉動(dong)軸距離:50～75mm
折曲(qu)度(du):135±5°
曲(qu)率半徑:2mm
試樣寬:≤19mm
折試頻(pin)次:0～180rpm

詳細介(jie)紹(shao)
功能簡(jian)介(jie)：
1，全(quan)自(zi)動(dong)INLINE式設計(ji)，無需(xu)人工(gong)操(cao)作
2，ICT靜(jing)態元(yuan)器(qi)件(jian)測(ce)試，
3，FCT功能測(ce)試，
4，多連板自(zi)動(dong)區分PASS OR NG板，機(ji)械(xie)手(shou)自(zi)動(dong)分板
5，測(ce)試數據存(cun)儲(chu)及連(lian)網功能
6，測(ce)試速度(du)比手(shou)工(gong)快(kuai)30%以上(shang)，操(cao)作人員(yuan)無。比(bi)手(shou)工(gong)測(ce)試少2-4人
7，條(tiao)碼識別(bie)及(ji)磁(ci)卡(ka)ID號識別(bie)功能，
8，自(zi)動(dong)化部(bu)分使用進品PLC，線性(xing)電機使(shi)用日本進(jin)口
硬(ying)件(jian)介(jie)紹：
ICT測(ce)試部分，
1，使用幹(gan)簧(huang)管(guan)繼電器為通道(dao)板，耐壓(ya)耐流(liu)大(da)，保(bao)證測(ce)試安全性
2，使(shi)用工(gong)控(kong)電腦，保(bao)證測(ce)試的穩(wen)定性(xing)，
3，WINXP界(jie)面，操(cao)作簡單方便(bian)
4，可(ke)測(ce)試待(dai)測(ce)板(ban)的(de)電阻(zu)，電容(rong)，電感(gan)，連接(jie)器，IC，二(er)極管(guan)，三極(ji)管(guan)，電容(rong)性(xing)極(ji)測(ce)試等

產(chan)品(pin)簡(jian)介(jie)

ICT在線測(ce)試儀(yi)是檢查(zha)PCB板(ban)上元器件(jian)的(de)電氣(qi)性(xing)能和電路網絡的(de)連(lian)接情(qing)況(kuang)。能夠(gou)準(zhun)確(que)對電阻(zu)、電容(rong)、電感(gan)、二極(ji)管(guan)、三極(ji)管(guan)、光藕(ou)、變壓(ya)器、繼電器、運算(suan)放(fang)大(da)器(qi)、中(zhong)小(xiao)規模(mo)的(de)集(ji)成電路進(jin)行測(ce)試。
   通過對元器(qi)件(jian)電氣(qi)性(xing)能的(de)測(ce)試來(lai)發(fa)現(xian)制(zhi)造工(gong)藝(yi)的(de)缺陷和元(yuan)器(qi)件(jian)的(de)不良。組件(jian)類(lei)可(ke)檢(jian)查(zha)出(chu)組(zu)件(jian)值的偏(pian)離誤差、失(shi)效(xiao)或損(sun)壞。對工(gong)藝(yi)類(lei)可(ke)發(fa)現(xian)如(ru)焊錫(xi)短(duan)路、組(zu)件(jian)插(cha)錯、插反、漏(lou)裝(zhuang)、管(guan)腳翹(qiao)起、虛(xu)焊，PCB短(duan)路、斷(duan)線等故(gu)障(zhang)。

  故障顯(xian)示具體的組件(jian)、器(qi)件(jian)管(guan)腳、網絡點(dian)上，故(gu)障(zhang)定(ding)位準確(que)。對(dui)故(gu)障的維(wei)修(xiu)不需(xu)較多專業(ye)知(zhi)識。采(cai)用自(zi)動(dong)化測(ce)試，操(cao)作簡單，測(ce)試快速。

基(ji)本功能：

1. Windows XP操(cao)作系統(tong)，運行(xing)穩(wen)定，安(an)全(quan)可靠(kao)，便(bian)於操(cao)作。
2. 程(cheng)式兼容(rong)性(xing)，可(ke)直(zhi)接讀取其它(ta)品(pin)牌ICT測(ce)試程(cheng)序與(yu)轉成其它(ta)程(cheng)式。
3. 自(zi)動(dong)測(ce)試程(cheng)式學(xue)習功能（ATPD），可(ke)快(kuai)速完成程(cheng)式調試，節約程(cheng)式調試時間；
4. 連扳(ban)展開(kai)功能，只(zhi)須作壹(yi)塊板(ban)的測(ce)試程(cheng)式，即可自(zi)動(dong)產(chan)生多連板測(ce)試程(cheng)式
5. 子板偵(zhen)測(ce)功能，可(ke)實(shi)現(xian)對連扳(ban)中(zhong)缺(que)板(ban)或無元(yuan)件(jian)的(de)壞板自(zi)動(dong)刪略(lve)測(ce)試。節約看(kan)板(ban)時間。
6. 統(tong)計報表(biao)功能，為改(gai)善生產(chan)品(pin)質提(ti)供可靠(kao)的數據，並(bing)可(ke)直接(jie)列(lie)印(yin)統(tong)計圖(tu)表(biao)。
7. 板(ban)示圖(tu)功能（Board View），可(ke)以直(zhi)接(jie)顯(xian)示故障(zhang)點(dian)的位置和相(xiang)關信息(xi)，壹(yi)般(ban)員工(gong)即(ji)可(ke)根據不(bu)良(liang)提(ti)示維修(xiu)，不(bu)需用專業(ye)維修(xiu)人員(yuan)。
8. 隔離功能，單(dan)部(bu)有10個隔離點(dian)，對待(dai)測(ce)體信號源(yuan)分流提(ti)供了(le)*的隔離效(xiao)果(guo)，提(ti)高(gao)了(le)待(dai)測(ce)體的穩(wen)定性(xing)和準(zhun)確(que)信。

9. 硬(ying)件(jian)自(zi)我(wo)檢(jian)測(ce)功能，開(kai)機(ji)即(ji)對設備(bei)的(de)自(zi)身硬(ying)件(jian)進(jin)行診斷，保(bao)證測(ce)試前(qian)設備(bei)的(de)良好性。
10. 使(shi)用者(zhe)權(quan)限(xian)設定(ding)，管(guan)理者(zhe)可(ke)以設定(ding)測(ce)試權、編(bian)程(cheng)權、維護(hu)權、監控(kong)權(quan)給(gei)相(xiang)關人員(yuan)。

新(xin)增(zeng)特點(dian)：

1. *的低(di)電阻(zu)測(ce)試，小可測(ce)試0.01歐姆電阻(zu)。
2. *的電解電容(rong)極(ji)性(xing)測(ce)試，可測(ce)率接近(jin)100%，真正解決實裝(zhuang)板電解電容(rong)極(ji)性(xing)插(cha)反。
3. *的SFIS系統(tong)、條碼掃描、方(fang)位監控(kong)、蓋章功能、紅(hong)外(wai)線保(bao)護(hu)等接(jie)口(kou)，客(ke)戶(hu)可(ke)根(gen)據(ju)需(xu)求(qiu)進(jin)行選購(gou)。
4. 放電功能，對(dui)待(dai)測(ce)體進行測(ce)試前(qian)的放(fang)電，以保(bao)證測(ce)試的穩(wen)定性(xing)及(ji)產(chan)品(pin)的(de)安(an)全性。

5． 並(bing)聯二(er)極管(guan)測(ce)試，可測(ce)出(chu)其中(zhong)壹(yi)個二極(ji)管(guan)掉件(jian)，損(sun)壞。

6． BGA測(ce)試，利用電場強(qiang)度(du)檢測(ce)BGA或(huo)IC插(cha)腳(jiao)空(kong)焊。

• 程(cheng)式匯(hui)入(ru)功能：可(ke)匯入FABMASTER生成的(de)測(測)試程(cheng)式；可匯入它(ta)廠(chang)的(de)測(測)試程(cheng)式
• 測(測)試程(cheng)式匯出(chu)功能：可(ke)匯出(chu)其它(ta)ICT的(de)測(測)試程(cheng)式