CTP4003高低溫試(shi)驗(yan)箱適用於電工(gong)電子(zi)、儀器儀表(biao)、材料、生物、化(hua)學(xue)等科(ke)研單位(wei)，用於對(dui)試品進行(xing)高低溫試(shi)驗(yan)，以(yi)便(bian)對(dui)試(shi)品(pin)在(zai)給(gei)定(ding)環(huan)境(jing)條件下(xia)的(de)行(xing)為能力(li)作出(chu)評價；

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高低溫低(di)氣(qi)壓試(shi)驗(yan)設(she)備廠家(jia)是按(an)國家(jia)標準(zhun)的(de)有關技術參(can)數設(she)計制作，用(yong)於電子(zi)產(chan)品(pin)的(de)高溫試(shi)驗(yan)、高溫真(zhen)空試驗、低溫真(zhen)空試驗、溫度(du)循環(huan)應(ying)力(li)篩選試驗。通(tong)過試(shi)驗考察各(ge)種(zhong)產(chan)品(pin)在(zai)各(ge)種(zhong)環(huan)境(jing)條件下(xia)的(de)工(gong)作性能和(he)技術狀態(tai)。本真(zhen)空試驗箱由(you)溫度(du)試(shi)驗箱(xiang)、加(jia)熱系統(tong)、電氣(qi)控(kong)制系統(tong)、觸摸式(shi)液晶顯(xian)示(shi)屏、PLC編(bian)程(cheng)器、及真(zhen)空抽(chou)氣(qi)系統(tong)顯(xian)示(shi)系統(tong)等部分組成。設(she)備具(ju)有超(chao)溫、過(guo)載(zai)、斷(duan)路等報警保(bao)護、故(gu)障診(zhen)斷(duan)等功能。

溫度(du)速變(bian)試(shi)驗(yan)設(she)備參(can)照(zhao)標準(zhun)：滿足(zu)GB2423.1試驗A《低溫試(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)》; GB2423.2試(shi)驗B《高溫試(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)》; GB2423.3試(shi)驗Ca《恒定(ding)濕熱(re)試驗方(fang)法(fa)》; GB2423.4試(shi)驗Db《交變(bian)濕(shi)熱(re)試(shi)驗方(fang)法(fa)》等國家(jia)標準(zhun)，以(yi)及(ji)其它相(xiang)關標準(zhun)的(de)要求。嚴格按GB 10592《高低溫試(shi)驗(yan)箱技術條件》、GB10586《濕熱(re)試(shi)驗(yan)箱(xiang)技術條件》進行(xing)設(she)計制造(zao)。

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