綜合小(xiao)件(jian)跌落試驗(yan)設(she)備(bei)

綜(zong)合小(xiao)件(jian)跌落試驗(yan)設(she)備(bei)產品(pin)用(yong)途(tu)：                        

   本試驗(yan)機(ji)用於(yu)（手機(ji)）、對(dui)講(jiang)機(ji)、電子(zi)詞典、樓寓(yu)對(dui)講(jiang)CD/MD/MP3等(deng)小(xiao)型(xing)消費(fei)類。電子(zi)制(zhi)品(pin)及(ji)零部件(jian)之自由(you)落下試驗(yan)。采(cai)用(yong)氣(qi)動(dong)結構升(sheng)降,跌落高(gao)度可調節(jie),多(duo)種(zhong)跌落介質供選.適用(yong)標(biao)準(zhun):JIS C 0044 IEC 60068-2-32。                                                

綜(zong)合(he)小(xiao)件(jian)跌落試驗(yan)設(she)備(bei)產品(pin)特(te)點(dian)：                        

   本機(ji)采(cai)用(yong)氣(qi)動(dong)結構升(sheng)降，將(jiang)被(bei)測(ce)手機(ji)置於(yu)氣動(dong)夾(jia)具(ju)吸牢，按(an)下跌落鍵，夾具(ju)連(lian)同(tong)手機(ji)壹起跌落在300mm處悉(xi)放手機(ji)，從而(er)保證(zheng)做原姿態跌落試驗(yan)，確(que)保菱(ling)，角，面跌落準(zhun)確(que)性(xing)，跌落高(gao)度可做上下調整，

小(xiao)物(wu)件(jian)跌落試驗(yan)機(ji)高(gao)品(pin)質手機(ji)微跌試驗(yan)機(ji) 手機(ji)微跌落試驗(yan)機(ji)廠家詳細(xi)介(jie)紹(shao)：