力(li)學性能(neng)電磁(ci)式(shi)振動(dong)試(shi)驗臺廣泛(fan)適用(yong)於(yu)國(guo)防(fang)、航空、醫(yi)療、通訊(xun)、電子、汽(qi)車、家(jia)電、等(deng)行(xing)業。該類型(xing)設備(bei)用(yong)於(yu)發(fa)現早(zao)期故障，模(mo)擬實際(ji)工(gong)況(kuang)考核(he)和結(jie)構強度試驗，產(chan)品(pin)應用(yong)範圍廣泛(fan)、適用(yong)面(mian)寬(kuan)、試(shi)驗*、可(ke)靠。正(zheng)弦(xian)波(bo)、調(tiao)頻(pin)、掃(sao)頻(pin)、可(ke)程式(shi)、倍(bei)頻(pin)、對數、時(shi)間控(kong)制(zhi)。

漆(qi)包金(jin)屬(shu)線(xian)扭絞(jiao)試驗機，是我公司(si)按(an)照(zhao)GB/T4074.5-2008《繞(rao)組(zu)線(xian)試(shi)驗方(fang)法(fa)-第(di)5部(bu)分(fen)：電性能(neng)》4.4部(bu)分(fen)相(xiang)關要求(qiu)研制(zhi)的壹(yi)種(zhong)數(shu)顯式(shi)新(xin)型(xing)線(xian)材(cai)扭轉試驗機。該試驗機有(you)二種(zhong)旋(xuan)轉(zhuan)速(su)度：60、120轉/分(fen)，適用(yong)於(yu)直(zhi)徑Ф0.1~Ф2.5mm的(de)金(jin)屬(shu)漆(qi)包線(xian)材(cai)扭轉試驗機。 該試驗機實現自(zi)動(dong)化(hua)控(kong)制(zhi)，扭絞(jiao)數數(shu)字設置(zhi)，自(zi)動(dong)完(wan)成試(shi)驗，到次(ci)數(shu)停(ting)機。配重負(fu)荷數字化(hua)顯示

材(cai)料(liao)試驗機采用(yong)調(tiao)速(su)精度高、性能(neng)穩(wen)定(ding)的(de)數字式(shi)交(jiao)流(liu)伺服(fu)調(tiao)速(su)系統(tong)和(he)伺(si)服電機作為驅動(dong)系(xi)統，特別設計(ji)的同(tong)步齒型(xing)帶(dai)減速(su)系統(tong)和(he)滾(gun)珠絲(si)杠(gang)副(fu)帶(dai)動(dong)試(shi)驗機的移動(dong)橫梁運動(dong)。以(yi)Windows為操(cao)作(zuo)平(ping)臺的(de)基於(yu)數(shu)據(ju)庫(ku)技術的(de)控(kong)制(zhi)與數(shu)據處(chu)理軟件，實現了(le)試(shi)驗力(li)、試驗力(li)峰值(zhi)、橫梁位(wei)移(yi)、試(shi)樣變(bian)形及(ji)試驗曲線(xian)的(de)屏(ping)幕(mu)顯示，所(suo)有(you)的試(shi)驗操作均(jun)可(ke)以在(zai)計(ji)算機屏幕上以(yi)鼠(shu)標(biao)輸(shu)入(ru)的方(fang)式(shi)完(wan)成(cheng)，具(ju)有(you)良(liang)好的(de)人機界面，操作方(fang)便(bian)。

微機控(kong)制(zhi)電子萬能(neng)試(shi)驗機擁(yong)有(you)精度高。 2、轉(zhuan)速(su)高 。 3、適應性強，能(neng)承(cheng)受(shou)三(san)倍(bei)於(yu)額(e)定(ding)轉(zhuan)矩的負載。 4、高低速(su)運行(xing)平(ping)穩(wen)。 5、減(jian)速(su)快、十(shi)毫(hao)秒之內。 6、發(fa)熱和(he)噪(zao)音明顯降低

PCT高溫蒸(zheng)煮試驗機適用(yong)於(yu)國(guo)防(fang)、航天(tian)、汽(qi)車部(bu)件(jian)、電子零(ling)配件、塑(su)膠(jiao)、磁(ci)鐵(tie)行(xing)業、制(zhi)藥、線(xian)路板，多層線(xian)路板、IC、LCD、磁(ci)鐵(tie)、燈(deng)飾、照(zhao)明(ming)制(zhi)品(pin)等(deng)產(chan)品(pin)之密(mi)封(feng)性能(neng)的(de)檢測(ce)，相(xiang)關之產(chan)品(pin)作(zuo)加速(su)壽命(ming)試(shi)驗，使用(yong)於(yu)在(zai)產(chan)品(pin)的(de)設計(ji)階段,用(yong)於(yu)快(kuai)速(su)暴露產(chan)品(pin)的(de)缺(que)陷(xian)和(he)薄(bo)弱(ruo)環(huan)節(jie)。測(ce)試其(qi)制(zhi)品(pin)的(de)耐厭(yan)性，氣密性。測(ce)試半導體(ti)封(feng)裝(zhuang)之濕氣能(neng)力(li)，待測(ce)產(chan)品(pin)被置(zhi)於(yu)嚴(yan)苛(ke)之溫度、濕度及壓力(li)下(xia)測(ce)試，濕氣會沿者膠(jiao)體(ti)或(huo)膠(jiao)體(ti)與導(dao)線(xian)架(jia)之接(jie)口(kou)滲(shen)入(ru)封(feng)裝(zhuang)體(ti)，常(chang)見之故(gu)障方(fang)

荷效壹_運輸(shu)模(mo)擬振動(dong)臺生(sheng)產(chan)價(jia)格(ge)專門針對被測(ce)物(wu)體(ti)經受(shou)若(ruo)幹次(ci)震(zhen)動(dong)後(hou)是否可(ke)以達到理想(xiang)標(biao)準的(de)壹種(zhong)測(ce)試，振動(dong)試(shi)驗機是提升您公司(si)產(chan)品(pin)躍入(ru)高品(pin)質領域的利器(qi)，模(mo)擬產(chan)品(pin)在(zai)制(zhi)造(zao)，組(zu)裝(zhuang)運(yun)輸(shu)及(ji)使(shi)用(yong)執(zhi)行(xing)階段中所遭受(shou)的各種(zhong)振動(dong)環(huan)境