高(gao)低(di)溫(wen)沖擊(ji)箱，上(shang)海荷(he)效(xiao)壹科技有限(xian)公(gong)司(si)主(zhu)營:溫(wen)度速(su)變(bian)試驗設(she)備(bei),溫(wen)度沖(chong)擊(ji)試驗設(she)備(bei),高低溫(wen)低氣(qi)壓(ya)試驗設(she)備(bei),太陽輻射(she)試驗設(she)備(bei),淋(lin)雨試驗設(she)備(bei),沙塵試驗設(she)備(bei),臭(chou)氧綜合(he)老(lao)化試驗箱,步入(ru)式綜合(he)性能(neng)試驗設(she)備(bei),高風(feng)速淋(lin)雨試驗設(she)備(bei)等氣(qi)候環(huan)境(jing)試驗設(she)備(bei)。

上(shang)海荷(he)效(xiao)壹實(shi)驗(yan)設(she)備(bei)高低溫(wen)冷(leng)熱沖擊(ji)試驗箱廠家，根據用(yong)戶要(yao)求(qiu)設計(ji)制(zhi)造，廣(guang)泛用(yong)於航空、航天(tian)、汽車、摩托車(che)、電(dian)子、IT行(xing)業(ye)、儀(yi)器儀(yi)表、電工(gong)產(chan)品等模(mo)擬試品在(zai)周(zhou)圍大(da)氣(qi)溫(wen)度急劇(ju)變(bian)化條件(jian)下(xia)的(de)適應(ying)性試驗及(ji)對(dui)電子(zi)元器件(jian)的(de)安全(quan)性(xing)測(ce)試提(ti)供可靠性試驗、產(chan)品(pin)篩(shai)選(xuan)等。

兩箱高(gao)低(di)溫(wen)沖擊(ji)箱，上(shang)海荷(he)效(xiao)壹科技有限(xian)公(gong)司(si)主(zhu)營:溫(wen)度速(su)變(bian)試驗設(she)備(bei),溫(wen)度沖(chong)擊(ji)試驗設(she)備(bei),高低溫(wen)低氣(qi)壓(ya)試驗設(she)備(bei),太陽輻射(she)試驗設(she)備(bei),淋(lin)雨試驗設(she)備(bei),沙塵試驗設(she)備(bei),臭(chou)氧綜合(he)老(lao)化試驗箱,步入(ru)式綜合(he)性能(neng)試驗設(she)備(bei),高風(feng)速淋(lin)雨試驗設(she)備(bei)等氣(qi)候環(huan)境(jing)試驗設(she)備(bei)。

高(gao)低(di)溫(wen)振動(dong)三綜合(he)試驗箱：廣(guang)泛適(shi)用於航空、航天(tian)、軍工(gong)、電(dian)工、電(dian)子等產(chan)品(pin)整機(ji)及(ji)零(ling)部件(jian)在常壓下(xia)的(de)高溫(wen)高濕(shi)試驗。

高(gao)低(di)溫(wen)低氣(qi)壓(ya)振(zhen)動(dong)試驗箱：主(zhu)要用(yong)於航空、航天(tian)、信(xin)息(xi)、電(dian)子(zi)等領(ling)域，確定(ding)儀(yi)器儀(yi)表、電工(gong)產(chan)品、材(cai)料(liao)、零(ling)部(bu)件(jian)、設(she)備在低氣(qi)壓(ya)、高(gao)溫(wen)、低溫(wen)單項(xiang)或(huo)同(tong)時作(zuo)用(yong)下(xia)的(de)環(huan)境(jing)適(shi)應(ying)性與可靠(kao)性試驗，並或(huo)同(tong)時對(dui)試件通(tong)電(dian)進(jin)行(xing)電氣(qi)性(xing)能(neng)參(can)數的(de)測(ce)量(liang)，采用(yong)整(zheng)體(ti)式組合(he)結構(gou)形(xing)式，試驗箱由(you)位於前(qian)部(bu)的(de)保(bao)溫(wen)箱體(ti)（承(cheng)壓(ya)結構(gou)）、位於後部的(de)制冷(leng)、真空機(ji)組和(he)位於試驗箱大(da)門(men)上(shang)的(de)電器控(kong)制(zhi)器（系(xi)統）組成。

高(gao)低(di)溫(wen)試驗箱是(shi)根據用(yong)戶要(yao)求(qiu)設計(ji)制(zhi)造，廣(guang)泛用(yong)於航空、航天(tian)、汽車、摩托車(che)、電(dian)子、IT行(xing)業(ye)、儀(yi)器儀(yi)表、電工(gong)產(chan)品等模(mo)擬試品在(zai)周(zhou)圍大(da)氣(qi)溫(wen)度急劇(ju)變(bian)化條件(jian)下(xia)的(de)適應(ying)性試驗及(ji)對(dui)電子(zi)元器件(jian)的(de)安全(quan)性(xing)測(ce)試提(ti)供可靠性試驗、產(chan)品(pin)篩(shai)選(xuan)等。