有關(guan)鹽霧腐(fu)蝕(shi)試驗(yan)箱(xiang)的劃(hua)分(fen)

　　有關(guan)鹽霧腐(fu)蝕(shi)試驗(yan)箱(xiang)的劃(hua)分(fen)

　　想(xiang)檢測防腐(fu)蝕(shi)怎樣，那就必定缺失(shi)不了鹽(yan)霧(wu)腐(fu)蝕(shi)試驗(yan)箱(xiang)，所以(yi)生(sheng)產制(zhi)造(zao)廠家在(zai)市(shi)場上也比(bi)較普(pu)遍(bian)，用(yong)戶(hu)的選(xuan)擇(ze)權也(ye)多(duo)了起(qi)來，腐(fu)蝕(shi)分(fen)為(wei)濕性(xing)的腐(fu)蝕(shi)和幹性(xing)的腐(fu)蝕(shi)。那您知道該如(ru)何(he)區(qu)分(fen)他們(men)嗎？那小(xiao)編(bian)就給(gei)大夥介(jie)紹介(jie)紹(shao)！

　　若存在水時(shi)，濕腐(fu)蝕(shi)是指(zhi)金(jin)屬類別(bie)的腐(fu)蝕(shi)，在生(sheng)產過(guo)程(cheng)中(zhong)，因(yin)大氣層中普(pu)遍(bian)存在(zai)水溶(rong)液，所(suo)以(yi)濕腐(fu)蝕(shi)較常見，但在(zai)高氣(qi)溫(wen)狀(zhuang)況(kuang)下幹腐(fu)蝕(shi)所帶來的傷害也(ye)是不(bu)容(rong)小(xiao)瞧的。

　　1、濕腐(fu)蝕(shi)的介(jie)紹

　　水(shui)溶(rong)液中(zhong)金(jin)屬的腐(fu)蝕(shi)性是電(dian)金(jin)屬。金(jin)屬表面(mian)的陽極和陰極之間(jian)造成(cheng)腐(fu)蝕(shi)性電子的產生(sheng)，正(zheng)離子是壹(yi)個(ge)氧化(hua)的過(guo)程(cheng)，被(bei)稱(cheng)為(wei)陽極過程(cheng)。壹(yi)些金(jin)屬的表(biao)面(mian)在(zai)接觸(chu)到水溶(rong)液時(shi)，會(hui)被(bei)溶(rong)液中(zhong)的某些物(wu)質(zhi)中和(he)，而(er)其(qi)中(zhong)和(he)的過(guo)程(cheng)為(wei)還原(yuan)過(guo)程(cheng)，稱(cheng)作為(wei)陰極過程(cheng)。故(gu)常(chang)見的：有氧還(hai)原(yuan)，氫(qing)氣釋放(fang)等(deng)。

　　2、鹽(yan)霧(wu)腐(fu)蝕(shi)試驗(yan)箱(xiang)的幹性(xing)腐(fu)蝕(shi)介紹

　　在高(gao)溫(wen)狀(zhuang)態(tai)下(xia)，會(hui)產生(sheng)氧化(hua)膜(mo)，其(qi)性(xing)質(zhi)和生(sheng)產規(gui)律決定其(qi)抗腐(fu)蝕(shi)性如何。膜(mo)的生(sheng)長規律劃(hua)分(fen)分(fen)：直(zhi)線(xian)、拋(pao)物(wu)線(xian)和對(dui)數(shu)。因(yin)金(jin)屬的重(zhong)量會跟隨(sui)時(shi)間(jian)加速(su)上升，從(cong)而(er)氧化(hua)直(zhi)線(xian)法則(ze)是危(wei)險(xian)的。拋(pao)對(dui)數(shu)是氧化(hua)速(su)率(lv)隨(sui)著膜(mo)厚的增(zeng)加從(cong)而(er)降低(di)，所以(yi)這(zhe)樣(yang)就(jiu)不存(cun)在(zai)什(shen)麽(me)危(wei)險情(qing)況(kuang)。

　　對(dui)於(yu)儀器(qi)來說(shuo)，造成(cheng)溫(wen)度(du)誤(wu)差的情(qing)況(kuang)有：環(huan)境氣(qi)溫、氣(qi)溫(wen)的調控(kong)、加熱(re)器分(fen)布、加熱(re)功(gong)率(lv)等(deng)。在(zai)噴(pen)淋(lin)試驗(yan)時，除(chu)上述影(ying)響因(yin)素外，還(hai)與空(kong)氣的流量、溫度(du)質(zhi)量控制(zhi)等(deng)因(yin)素配合(he)使(shi)用(yong)。