鹽(yan)霧(wu)試驗(yan)箱(xiang)出現故(gu)障應(ying)該(gai)怎(zen)麽(me)解(jie)決

　　鹽(yan)霧(wu)試驗(yan)箱(xiang)通過考(kao)核(he)對(dui)材料及其(qi)防(fang)護層的鹽霧(wu)腐蝕的能力，以(yi)及相似(si)防(fang)護層的工(gong)藝質(zhi)量(liang)比較，同時(shi)可(ke)考(kao)核(he)某(mou)些產(chan)品(pin)抗(kang)鹽(yan)霧(wu)腐蝕的能力;該(gai)產(chan)品(pin)適用於零部(bu)件(jian)、電子元件(jian)、金屬材料的防(fang)護層以(yi)及工(gong)業產(chan)品(pin)的鹽霧(wu)腐蝕試驗(yan)。

　　鹽(yan)霧(wu)試驗(yan)箱(xiang)的常見故(gu)障以(yi)及解(jie)決辦法

　　1、鹽霧(wu)沈降(jiang)量(liang)的調節(jie)：

　　(1)調節(jie)噴(pen)霧(wu)塔頂端的帽尖與噴(pen)霧(wu)口(kou)的距(ju)離(li)，距(ju)離(li)越大沈(chen)降(jiang)量(liang)越大；

　　(2)調(tiao)節(jie)噴(pen)霧(wu)壓(ya)力閥(fa)，壓(ya)力閥(fa)的Mpa越大鹽(yan)霧(wu)沈降(jiang)越大，Mpa與鹽霧(wu)沈降(jiang)量(liang)成(cheng)正(zheng)比。

　　2、連續噴(pen)霧(wu)與間隙噴(pen)霧(wu)的調節(jie)方法：

　　在試驗(yan)前依(yi)據(ju)試驗(yan)要(yao)求(qiu)，采用“連(lian)續(xu)”噴(pen)霧(wu)或(huo)“間隙”噴(pen)霧(wu)的方式。若需“連(lian)續(xu)”噴(pen)霧(wu)，則(ze)打開(kai)“連(lian)續(xu)”開(kai)關(guan);若(ruo)需“間隙”噴(pen)霧(wu)，則(ze)打開(kai)“間隙”噴(pen)霧(wu)開(kai)關(guan)即(ji)可(ke)(間隙時間，應事先在時間繼電器(qi)上(shang)具(ju)體設(she)定)。

　　3、鹽霧(wu)試驗(yan)箱(xiang)內(nei)溫(wen)度(du)無(wu)法上(shang)升(sheng)。

　　問題(ti)原(yuan)因(yin)：

　　a.試驗(yan)室(shi)溫度控(kong)制器(qi)溫(wen)度(du)，設(she)定過低；

　　b.試驗(yan)室(shi)安全保護開(kai)關(guan)設(she)定過低；

　　c.加(jia)熱系統(tong)故障；

　　d.電磁(ci)繼電器(qi)故(gu)障；

　　e.控(kong)制器(qi)故(gu)障。

　　解(jie)決方法：

　　a.將溫(wen)度(du)控制器(qi)設(she)定於所需溫(wen)度(du)；

　　b.將安全保護開(kai)關(guan)設(she)定於所需溫(wen)度(du)；

　　c.d.e.可(ke)以(yi)聯(lian)系廠家售(shou)後(hou)維(wei)修(xiu)人(ren)員上(shang)門(men)維(wei)修(xiu)。

　　另(ling)外(wai)，鹽(yan)霧(wu)試驗(yan)箱(xiang)沈降(jiang)量(liang)過低還有壹個原(yuan)因(yin)是全新(xin)的設(she)備(bei)第(di)壹(yi)次做試驗(yan)或(huo)設(she)備(bei)長(chang)時(shi)間沒有做試驗(yan)時(shi)，試驗(yan)箱(xiang)收集漏(lou)鬥(dou)與計(ji)量(liang)筒(tong)是通(tong)過矽(gui)膠(jiao)管(guan)連(lian)接(jie)的，漏(lou)鬥(dou)收集鹽(yan)液(ye)→通(tong)過管(guan)道(dao)→流到計(ji)量(liang)筒(tong)，若(ruo)設(she)備(bei)是第(di)壹(yi)次試驗(yan)，管(guan)道(dao)非(fei)常幹(gan)燥，鹽(yan)液(ye)經過時(shi)會被(bei)吸附壹(yi)部(bu)分(fen)。因(yin)此(ci)，剛(gang)開(kai)始試驗(yan)很可(ke)能(neng)量(liang)會很少(shao)或(huo)沒(mei)有，只要(yao)16小(xiao)時(shi)後(hou)就*正(zheng)常了。