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          關於(yu)高低溫低氣壓試驗的(de)簡單(dan)說明(ming)

          更新(xin)時間:2021-07-06   |  點(dian)擊(ji)率(lv):3338

              高(gao)低溫低氣壓濕(shi)熱(re)試驗箱常(chang)用(yong)於(yu)航(hang)空(kong)航(hang)天、信息電(dian)子等領(ling)域,比(bi)如儀(yi)器(qi)儀表(biao)、電(dian)子電(dian)工設備(bei)、材(cai)料、零(ling)部件(jian)等(deng),要(yao)測(ce)試其(qi)在低氣壓以及高(gao)低溫或(huo)高低溫濕(shi)熱(re)低氣壓綜(zong)合(he)環境下的(de)適應(ying)性(xing)與(yu)可(ke)靠(kao)性(xing)。


          1.試驗說明(ming)
          該(gai)類(lei)試驗是模(mo)擬(ni)飛行器(qi)升降期(qi)間,未(wei)增(zeng)壓和(he)溫度(du)未(wei)控制的(de)部位(wei)所(suo)遇到的(de)環(huan)境條(tiao)件。裝有彈性(xing)密(mi)封的(de)非散(san)熱(re)元器(qi)件(例如帶(dai)插頭(tou)插座的(de)連(lian)接器(qi))變冷(leng)時,會(hui)使(shi)密(mi)封件硬(ying)化和(he)材(cai)料收(shou)縮,當(dang)周(zhou)圍(wei)氣壓降低時這種(zhong)密(mi)封可(ke)能損(sun)壞,造(zao)成(cheng)內(nei)壓(ya)的(de)損(sun)失。
          當(dang)飛行器(qi)降入(ru)潮(chao)濕(shi)大(da)氣時,氣壓再升高,低溫的(de)元器(qi)件可(ke)能會(hui)遭(zao)受(shou)霜凍﹐潮(chao)濕(shi)大(da)氣本身(shen)或(huo)融霜(shuang)形成的(de)遊(you)離水由於(yu)壓力(li)差(cha)可(ke)進入(ru)元器(qi)件內(nei),當(dang)密(mi)封件恢(hui)復正常彈性(xing)時,水分就留在元器(qi)件內(nei)。對(dui)於(yu)配有封蓋而又(you)不(bu)帶(dai)排(pai)泄(xie)孔的(de)非密(mi)封設備(bei),同(tong)樣也(ye)可(ke)能發(fa)生(sheng)積(ji)水現(xian)象(xiang)。

           

          2.試驗設備(bei)的(de)說(shuo)明
          (1)高低溫低氣壓濕(shi)熱(re)試驗箱應(ying)能使(shi)試驗樣品(pin)經受(shou)試驗標(biao)準(zhun)中(zhong)規定(ding)的(de)嚴(yan)酷範圍(wei),如低溫和(he)低氣壓範圍(wei),在1h內(nei)能從(cong)極冷(leng)條(tiao)件升到30℃~35℃。在升溫且同(tong)時保(bao)持(chi)相(xiang)當(dang)恒定(ding)的(de)低氣壓期間,試驗箱在(zai)裝有試驗樣品(pin)的(de)工(gong)作空(kong)間同(tong)時具(ju)有加濕(shi)或(huo)導入(ru)水(shui)汽(qi)的(de)裝置。
          (2)由於(yu)本試驗有水氣(qi)進入(ru),並常導致絕緣電(dian)阻(zu)下降,因此試驗樣品(pin)的(de)引(yin)線(xian)穿過試驗箱壁(bi)時應(ying)無破損(sun)或(huo)交連(lian),並氣密(mi)密(mi)封。為(wei)此連接(jie)試驗樣品(pin)的(de)引(yin)線(xian)本身(shen)應(ying)具(ju)有適當(dang)的(de)尺(chi)寸(cun)和(he)絕(jue)緣。
          (3)如果(guo)試驗樣品(pin)有運(yun)動(dong)的(de)零(ling)部件(jian),它(ta)們(men)的(de)運(yun)動(dong)可(ke)能會(hui)由於(yu)試驗內(nei)部結(jie)冰(bing)而(er)受(shou)到阻(zu)礙(ai),試驗箱應(ying)具(ju)有監測(ce)這(zhe)種(zhong)運(yun)動(dong)的(de)電(dian)子或(huo)機械裝置。

           

          3.常(chang)用(yong)參照標(biao)準(zhun)

          GB/T 1C590-2008低氣壓試驗箱技(ji)術(shu)條(tiao)件

          GB/T 2423.25-2008低溫/低氣壓綜(zong)合(he)試驗方法(fa)

          GB/T 2423.26-2008高(gao)溫/低氣壓綜(zong)合(he)試驗方法(fa)

          GJB 15C.2A -2009低氣壓高度(du)試驗方法(fa)(快(kuai)速降壓(ya)除(chu)外)

          GJB 15C3A-2009高(gao)溫試驗方法(fa)

          GJB 15C.4A-2009低溫試驗方法(fa)

          GJB 15C.24A-2009 破(po)-濕(shi)度(du)-振動-高度試驗方法(fa)(振動(dong)除(chu)外)

          GJB 36CA-2009電(dian)子及電(dian)氣元件(jian)試驗方法(fa)105低氣壓試驗的(de)要(yao)求(qiu)

          GB/T 5170.2-2008電(dian)工電(dian)子產品環境(jing)試驗設備(bei)檢驗方法(fa)溫度(du)試驗設備(bei)

          GB/T 5170.10-2008電(dian)工電(dian)子產品環境(jing)試驗設備(bei)檢驗方法(fa)高低溫低氣壓試驗設備(bei)

           

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