紫外老(lao)化(hua)箱(xiang)和氙(xian)燈(deng)老(lao)化(hua)箱(xiang)的(de)分析比較

　　氣候和(he)陽(yang)光(guang)輻照是(shi)損害(hai)塗(tu)料(liao)、塑料、油墨(mo)及其(qi)他(ta)高(gao)分子(zi)材(cai)料(liao)的(de)主要原因，這(zhe)種損害(hai)包(bao)括失光(guang)、褪色(se)、黃變(bian)、開(kai)裂、脫(tuo)皮(pi)、脆(cui)化(hua)、強(qiang)度(du)降低及分層(ceng)。即(ji)使是(shi)室內的(de)光及通過(guo)玻(bo)璃窗透射的(de)太陽(yang)光也(ye)都(dou)會(hui)使(shi)壹些材(cai)料(liao)老(lao)化(hua)，比如(ru)引起(qi)顏料(liao)、染(ran)料等(deng)褪色(se)或變(bian)色(se)。
 

　　對許(xu)多(duo)制(zhi)造商而言，產品的(de)耐老(lao)化(hua)和(he)耐光(guang)性是極(ji)其(qi)重(zhong)要的(de)。加(jia)速(su)檢測老(lao)化(hua)和(he)光穩(wen)定(ding)性的(de)設(she)備(bei)被廣(guang)泛(fan)用(yong)於(yu)研(yan)究開(kai)發(fa)、質量(liang)、控(kong)制(zhi)和(he)材(cai)料(liao)檢定(ding)，這(zhe)些檢測設(she)備(bei)提供(gong)快(kuai)速(su)並(bing)且(qie)可重(zhong)復的(de)測試(shi)結果(guo)。近(jin)年(nian)來，低價位且(qie)使用(yong)方便的(de)實驗(yan)室檢測設(she)備(bei)已經開(kai)發(fa)出(chu)來，包括紫外加(jia)速(su)老(lao)化(hua)設(she)備(bei)符合ASTMG154)氙(xian)燈(deng)試(shi)驗箱符合ASTMG155。
 

　　測試(shi)抗老(lao)化(hua)和(he)光穩(wen)定(ding)性的(de)*佳(jia)方法(fa)經常引起(qi)爭論。幾(ji)年(nian)來，各種(zhong)各樣的(de)方法(fa)都(dou)被應(ying)用(yong)過(guo)，現在(zai)大(da)部分研(yan)究者(zhe)使(shi)用自然(ran)曝露方法(fa),氙(xian)弧(hu)燈(deng)或加(jia)速(su)老(lao)化(hua)試(shi)驗設(she)備(bei)。自然(ran)曝露測試(shi)方法(fa)有(you)很(hen)多(duo)優(you)點，實際(ji)、便宜、易於(yu)操(cao)作(zuo)，然(ran)而大(da)部分制(zhi)造(zao)商不願(yuan)意等(deng)上(shang)幾(ji)年(nian)的(de)時間(jian)來觀(guan)察(cha)壹種新(xin)的(de)改(gai)良的(de)產品設(she)計(ji)是(shi)否真的(de)得到(dao)改(gai)進。
 

　　氙(xian)弧(hu)燈(deng)試(shi)驗箱和紫外加(jia)速(su)老(lao)化(hua)試(shi)驗箱是應用*廣(guang)泛(fan)的(de)加(jia)速(su)老(lao)化(hua)檢測設(she)備(bei)，這(zhe)兩種(zhong)檢測設(she)備(bei)的(de)測試(shi)原理*不同。 氙(xian)燈(deng)試(shi)驗箱模(mo)擬(ni)太陽光的(de)所有(you)光譜，包括紫外線(UV)、可(ke)見(jian)光和(he)紅外線(IR)，氙(xian)燈(deng)光譜在(zai)295nm到(dao)800nm範(fan)圍內基(ji)本上(shang)與太陽(yang)光(guang)的(de)光譜相(xiang)吻(wen)合(如(ru)圖1所示)。被用(yong)來測試(shi)許多產品，這(zhe)些產品對(dui)紫外線的(de)長(chang)波段(duan)、可見(jian)光(guang)及紅(hong)外線較敏(min)感(gan)。
 

　　不能模(mo)擬(ni)全(quan)光譜太陽(yang)光。它(ta)的(de)原理是(shi)，對於(yu)曝露在(zai)室(shi)外(wai)的(de)經久耐用的(de)材(cai)料(liao)，紫外線的(de)短波段(duan)300~400nm是引起(qi)老(lao)化(hua)損害(hai)的(de)主要原因(如(ru)圖1所示)。從(cong)中可以(yi)看(kan)出(chu)，在(zai)紫外線的(de)短波區(qu)域，即(ji)從(cong)365nm到太(tai)陽(yang)光(guang)的(de)*低波段(duan)，能很(hen)好(hao)地(di)模(mo)擬(ni)太陽光，然(ran)而，對(dui)於(yu)長(chang)壹點的(de)波長(chang)它(ta)將(jiang)無(wu)能為力。
 

　　測試(shi)的(de)*佳(jia)方法(fa)依賴於(yu)測試(shi)需要，每種方法(fa)都(dou)可能非常有(you)效。應(ying)該(gai)根據被測產品或(huo)材(cai)料(liao)、終的(de)應用(yong)條(tiao)件(jian)、所(suo)考慮(lv)的(de)降解模(mo)式(shi)和預(yu)算(suan)來選擇合適(shi)的(de)檢測設(she)備(bei)。