高(gao)低(di)溫(wen)交變(bian)濕熱(re)試(shi)驗(yan)箱(xiang)與(yu)交變(bian)濕熱(re)箱恒溫恒濕試(shi)驗(yan)箱(xiang)屬(shu)同類(lei)產(chan)品(pin),只(zhi)是叫法(fa)不同,高(gao)低(di)溫(wen)交變(bian)濕熱(re)試(shi)驗(yan)箱(xiang)是航空(kong)、汽車、家電(dian)、科研等領(ling)域*的測試(shi)設(she)備,用於(yu)測試(shi)和(he)確(que)定(ding)電(dian)工、電(dian)子(zi)及其(qi)他產(chan)品(pin)及材(cai)料進行高(gao)溫(wen)、低(di)溫、交變(bian)濕熱(re)度或(huo)恒定(ding)試(shi)驗(yan)的(de)溫度(du)環(huan)境(jing)變(bian)化後(hou)的(de)參數(shu)及性(xing)能(neng)。
該(gai)濕熱試(shi)驗(yan)箱(xiang)的溫(wen)度和濕(shi)度是影響儀器(qi)性(xing)能(neng)的(de)重(zhong)要(yao)因素(su),其(qi)可(ke)以(yi)引起機械(xie)部(bu)件的銹蝕,使(shi)金(jin)屬(shu)鏡面的(de)光潔(jie)度(du)下(xia)降(jiang),引起高低溫試(shi)驗(yan)箱(xiang)機械(xie)部(bu)分的誤(wu)差(cha)或(huo)性(xing)能(neng)下(xia)降(jiang);造成(cheng)高(gao)低溫試(shi)驗(yan)箱(xiang)光學部(bu)件如光柵(zha)、反(fan)射(she)鏡、聚焦(jiao)鏡等的(de)鋁膜(mo)銹(xiu)蝕,產(chan)生(sheng)光能(neng)不(bu)足、雜散光、噪(zao)聲等(deng),甚(shen)至(zhi)儀器(qi)停(ting)止工(gong)作(zuo),從而影(ying)響高低(di)溫試(shi)驗(yan)箱(xiang)的壽(shou)命(ming),維(wei)護保(bao)養(yang)時應(ying)定(ding)期加(jia)以校(xiao)正。
高(gao)低溫(wen)交變(bian)濕熱(re)試(shi)驗(yan)箱(xiang)工作(zuo)環(huan)境(jing)中(zhong)的塵(chen)埃(ai)和(he)腐蝕性氣體(ti)亦(yi)可(ke)以(yi)影響機械(xie)系統的靈活(huo)性、降(jiang)低各(ge)種(zhong)限(xian)位(wei)開(kai)關(guan)、按鍵、光電(dian)偶(ou)合(he)器(qi)的(de)可(ke)靠(kao)性,也(ye)是造成(cheng)必(bi)須(xu)學部(bu)件鋁膜(mo)銹(xiu)蝕的原因之(zhi)壹(yi)。使(shi)用(yong)壹定(ding)周(zhou)期後(hou),內(nei)部(bu)會積(ji)累壹定(ding)量(liang)的塵(chen)埃(ai),在工程師指導(dao)下(xia)定(ding)期開(kai)啟(qi)高低(di)溫試(shi)驗(yan)箱(xiang)外罩(zhao)對內(nei)部(bu)進行除(chu)塵(chen)工(gong)作(zuo),同時(shi)將(jiang)各(ge)發(fa)熱(re)元(yuan)件的散熱器(qi)重(zhong)新(xin)緊固,對光學盒的(de)密封窗口進行清(qing)潔(jie),必(bi)要(yao)時對其(qi)進行校(xiao)準,對機械(xie)部(bu)分進行清(qing)潔(jie)和(he)必(bi)要(yao)的潤(run)滑。
該(gai)箱若在0℃以下(xia)運(yun)轉(zhuan)時,應(ying)盡(jin)量(liang)避免打開(kai)箱(xiang)門(men),因(yin)為(wei)做(zuo)低(di)溫(wen)時,若開(kai)啟(qi)箱門(men)易造成(cheng)內(nei)部(bu)蒸(zheng)發(fa)器(qi)及其(qi)它部(bu)位(wei)之(zhi)封(feng)冰(bing)現象,尤以(yi)溫(wen)度(du)愈(yu)低狀(zhuang)況(kuang)愈嚴重(zhong),若(ruo)必(bi)須(xu)打開(kai),則(ze)應(ying)盡(jin)量(liang)縮短(duan)開(kai)門(men)時(shi)間;
箱側附有測試(shi)孔(kong),可(ke)接(jie)於(yu)箱(xiang)內(nei)測試(shi)線路(lu)時使(shi)用(yong);
測試(shi)中(zhong)若欲(yu)觀(guan)察箱內(nei)變(bian)化狀(zhuang)況(kuang)時,可(ke)將(jiang)室內(nei)燈(deng)開(kai)關(guan)開(kai)啟(qi),經由窗口知(zhi)悉內(nei)部(bu)之(zhi)變(bian)化情形(xing);
當完(wan)成低溫(wen)運(yun)轉(zhuan)時,務必(bi)設(she)定(ding)溫(wen)度條件60℃施行幹(gan)燥(zao)處理約(yue)半小時,以(yi)免影響下(xia)壹作(zuo)業(ye)條(tiao)件之(zhi)測定(ding)時(shi)間或(huo)結(jie)冰(bing)現象。