連(lian)接器的(de)耐壓檢(jian)測試驗

耐壓測(ce)試儀(yi)--上(shang)海(hai)荷(he)效(xiao)壹科(ke)技有限(xian)公(gong)司

壹、耐壓檢(jian)測作(zuo)用原理 

       耐壓檢(jian)測是考(kao)核連(lian)接器每(mei)個接(jie)觸件之間（或接(jie)觸件與殼(ke)體(ti)間）、線(xian)束(shu)的(de)每(mei)條連(lian)接線(xian)之(zhi)間、電(dian)路板(ban)的每(mei)條電(dian)路(lu)之間，在規定(ding)時(shi)間內(nei)施(shi)加規(gui)定(ding) 電(dian)壓(ya)，以此來(lai)確定(ding)其在額(e)定電(dian)壓下能否(fou)安(an)全工作(zuo)，能否(fou)耐受由(you)於開關浪(lang) 湧及(ji)其它類似現象所導致的(de)過電位(wei)能力。從而(er)評定這(zhe)些(xie)互連(lian)器件的絕緣材(cai)料(liao)及絕緣間隙(xi)是否(fou)合(he)適(shi)。

       如(ru)果絕緣體內有缺(que)陷(xian)，則在施(shi)加試驗電(dian)壓(ya)後，必然(ran)產(chan)生(sheng)擊(ji)穿放(fang)電或 損(sun)壞。擊(ji)穿放(fang)電表(biao)現(xian)為(wei)飛弧（表(biao)面(mian)放(fang)電）、火(huo)花(hua)放(fang)電（空氣放(fang)電）或擊(ji) 穿（擊(ji)穿放(fang)電）現(xian)象。過大漏(lou)電流(liu)可能引起電參(can)數或物(wu)理性(xing)能的改(gai)變(bian)。

       由(you)於過電位(wei)，即(ji)使(shi)是在低(di)於擊(ji)穿電(dian)壓時(shi)也可能有損(sun)於絕緣或降低(di) 其安(an)全系數。所以應當慎重(zhong)地(di)進行(xing)介質(zhi)耐壓檢(jian)驗。在例行(xing)試驗中(zhong)如(ru)果 需(xu)要連(lian)續施(shi)加試驗電(dian)壓(ya)時(shi)，在進行(xing)隨後的(de)試驗時(shi)降低(di)電位(wei)

二、影響(xiang)因(yin)素(su) 

       主(zhu)要受(shou)絕緣材(cai)料(liao)、潔凈度、濕度、大(da)氣壓(ya)力(li)、接觸件間距，爬(pa)電距 離(li)和耐壓持(chi)續時(shi)間等(deng)因(yin)素(su)影(ying)響(xiang)；

 
三(san)、問(wen)題(ti)研(yan)討 

       1、測(ce)量(liang)方(fang)法的(de)研(yan)究(jiu) 
       2、漏電(dian)流(liu)的(de)設定 
       3、檢驗工裝的(de)影(ying)響 
       4、絕緣電阻檢驗(yan)不(bu)能替(ti)代介質(zhi)耐壓檢(jian)驗

四(si)、耐壓測(ce)試儀(yi)

電(dian)子(zi)升壓(ya)

調(tiao)壓(ya)器(qi)升壓(ya)

       耐壓測(ce)試儀(yi)可分(fen)為(wei)調(tiao)壓器(qi)升壓(ya)和電(dian)子(zi)升壓(ya)二種(zhong)。調壓(ya)器(qi)升壓(ya)優(you)點是 升壓(ya)變(bian)壓(ya)器容(rong)量(liang)大(da)(可達(da)數KVA) ，過載能力強(qiang)(當(dang)負(fu)載(zai)短(duan)路(lu)時(shi)) ，測試波形(xing)為工頻周(zhou)波，簡單(dan)可靠(kao)，抗(kang)幹擾，易於維護，價(jia)格(ge)低(di)廉。缺(que)點是 自(zi)動(dong)化(hua)測試能力差，與生(sheng)產(chan)流水線(xian)配套難。電(dian)子(zi)升壓(ya)采用(yong)線(xian)性(xing)放(fang)大技(ji)術(shu)和脈寬調(tiao)制(zhi)技術進行(xing)調(tiao)壓(ya)、升壓(ya)，用(yong)內部(bu)邏(luo)輯(ji)電(dian)路(lu)切(qie)換控(kong)制(zhi)。優(you)點 是輸出電(dian)壓(ya)穩定(ding)，自(zi)動(dong)化(hua)測試程度(du)高(gao)，易於與生(sheng)產(chan)流水線(xian)配套形(xing)成測 試系統，具(ju)有統計(ji)分(fen)析能力。缺(que)點是升壓(ya)變(bian)壓(ya)器容(rong)量(liang)有限(xian)(目(mu)前大(da)可 達(da)500VA即(ji)5KV/100mA) ， 線(xian)路(lu)復雜(za)，價格(ge)較(jiao)高(gao)。

五(wu)、自(zi)動(dong)絕緣耐壓檢(jian)測儀(yi)加(jia)壓(ya)方(fang)式(shi) 

       這(zhe)裏(li)介紹(shao)的(de)多(duo)功(gong)能儀(yi)自(zi)動(dong)檢(jian)測絕緣耐壓采用(yong)的(de)通過內部(bu)邏(luo)輯(ji)電(dian) 路(lu)切(qie)換控(kong)制(zhi)的電子(zi)升壓(ya)方(fang)法。耐壓檢(jian)驗時(shi)，為保護(hu)電氣(qi)產(chan)品(pin)和按(an)規 定(ding)的技(ji)術指標測(ce)試，需(xu)確(que)定壹個在不破(po)壞電(dian)氣(qi)產(chan)品(pin)(絕緣材(cai)料(liao)) 的 高(gao)電場(chang)強度(du)下允許(xu)流(liu)經(jing)被測(ce)電(dian)氣產(chan)品(pin)(絕緣材(cai)料(liao)) 的大(da)電(dian)流(liu)值(zhi)，這(zhe) 個漏(lou)電(dian)流壹般(ban)規定要求(qiu)在施(shi)加交流電(dian)壓(ya)時(shi)測得，其中(zhong)包(bao)含有通(tong)過分(fen) 布(bu)電容(rong)的(de)位(wei)移(yi)電流(liu)，它與測量絕緣電阻施(shi)加直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)產(chan)生(sheng)的(de)漏(lou)電流 有所區別(bie)。耐壓檢(jian)測是在導通(tong)檢(jian)測(ce)的(de)基礎(chu)上(shang)進行(xing)的(de)，每(mei)個檢(jian)測(ce)點都(dou) 有高(gao)電壓(ya)輸出和測(ce)定漏(lou)電流的開關，儀(yi)器(qi)施(shi)加高(gao)壓的(de)方(fang)式(shi)有扁(bian)平(ping) 式、 矩(ju)陣(zhen)式(shi)、掃描式和自(zi)動(dong)式(shi)等(deng)四(si)種(zhong)。

       自(zi)動(dong)耐壓檢(jian)測所需(xu)時(shi)間與不同(tong)的檢(jian)測模式（加(jia)壓(ya)方(fang)式(shi)）有關系(xi) ，由(you)於四(si)種(zhong)檢測(ce)模式的(de)加(jia)壓次(ci)數不同(tong)，故以上(shang)四(si)種(zhong)加高(gao)電壓(ya)方(fang)式(shi) 所耗費(fei)的(de)時(shi)間也不同(tong)。假如每(mei)次加壓(ya)時(shi)間設定為1秒，由(you)於各次加 壓的轉換時(shi)間需(xu)0.1秒(miao)，故自(zi)動(dong)耐壓檢(jian)測時(shi)間＝(加(jia)壓次(ci)數×1秒) ＋(加壓次(ci)數×0.1秒) ，那麽 

       扁(bian)平(ping)式自動(dong)耐壓檢(jian)測時(shi)間＝(2次(ci)×1秒) ＋(2次(ci)×0.1秒) ＝2.2秒(miao)； 
       矩(ju)陣(zhen)式(shi)自動(dong)耐壓檢(jian)測時(shi)間＝(8次(ci)×1秒) ＋(8次(ci)×0.1秒) ＝8.8秒(miao)； 
       掃(sao)描式自動(dong)耐壓檢(jian)測時(shi)間＝(16次(ci)×1秒) ＋(16次(ci)×0.1秒) ＝17.6秒(miao)； 
       自(zi)動(dong)式(shi)自動(dong)耐壓檢(jian)測時(shi)間＝(4次(ci)×1秒) ＋(4次(ci)×0.1秒) ＝4.4秒(miao)； 

       由(you)公(gong)式可得，扁(bian)平(ping)式快(kuai)，掃(sao)描式慢(man)。使用(yong)單位(wei)可根據檢測(ce)的實際(ji)需(xu)要，分(fen)別(bie)對(dui)儀(yi)器(qi)設定不同(tong)的檢(jian)測模式。

 六(liu)、耐壓檢(jian)測的(de)參(can)數設定 

      (1)測(ce)試電壓(ya)的(de)設定
      (2)漏電流的(de)設定 
      (3)保壓(ya)時(shi)間的(de)設定

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